원핫 셀 형태의 다중 비트 값 검증 및 XOR/XNOR 논리 연산 분석
Verification of One-Hot Cell Multi-Bit Values and Analysis of XOR/XNOR Logical Operations
지니성이
- 융합공학 기술개발
- 2025
- 제 2권 9호
- pp.58-68
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초록
본 연구는 디지털 논리 회로에서 XOR과 XNOR 연산의 특성을 심층적으로 분석하고, 다중 비트 데이터의 순차적 비교 방법을 탐구한다. 2~7개의 입력에 대한 진리표 분석을 통해 입력 개수에 따른 XOR과 XNOR의 논리적 특성을 규명하고, Verilog를 활용한 비교 방법론을 제시한다. 특히 홀수 및 짝수 입력에 따른 논리 게이트의 동작 메커니즘을 실험적으로 검증하여 디지털 회로 설계의 기초 원리를 탐구한다.
This study conducts an in-depth analysis of XOR and XNOR operation characteristics in digital logic circuits and explores sequential comparison methods for multi-bit data. Through truth table analysis of 2-7 inputs, the logical characteristics of XOR and XNOR are identified, and a methodology using Verilog is proposed. In particular, the operational mechanism of logic gates according to odd and even inputs is experimentally verified, exploring the fundamental principles of digital circuit design. -
목차
1. 설계목적
2. 설계 관련 이론
3. 설계 과정
4. 결과
5. 결론
6. 참고문헌 -
키워드
- # XOR 연산
- # XNOR 연산
- # 디지털 논리 회로
- # 다중 비트 데이터 비교
- # 진리표 분석
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참고자료
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